Ostya kazetta hordozó

Rövid leírás:

Ostya kazetta hordozó– Biztosítsa ostyái biztonságos és hatékony szállítását a Semicera Wafer Cassette Carrier segítségével, amelyet az optimális védelemre és a félvezetőgyártás során történő könnyű kezelhetőségre terveztek.


Termék részletek

Termékcímkék

Semicera bemutatja aOstya kazetta hordozó, kritikus megoldás a félvezető lapkák biztonságos és hatékony kezelésére. Ezt a hordozót úgy tervezték, hogy megfeleljen a félvezetőipar szigorú követelményeinek, biztosítva az ostyák védelmét és integritását a gyártási folyamat során.

 

Főbb jellemzők:

Robusztus felépítés:AOstya kazetta hordozókiváló minőségű, tartós anyagokból készült, amelyek ellenállnak a félvezető környezet igénybevételének, megbízható védelmet nyújtva a szennyeződések és a fizikai sérülések ellen.

Pontos igazítás:A lapkák pontos beállítására tervezett tartó biztosítja, hogy az ostyák biztonságosan a helyükön maradjanak, így minimálisra csökkenti az eltolódás vagy a szállítás közbeni sérülés kockázatát.

Könnyű kezelhetőség:Az ergonómikus kialakítás az egyszerű használat érdekében, a hordozó leegyszerűsíti a be- és kirakodási folyamatot, javítva a munkafolyamat hatékonyságát tisztatéri környezetben.

Kompatibilitás:Sokféle szeletmérettel és típussal kompatibilis, így sokoldalúan használható különféle félvezetőgyártási igényekhez.

 

Tapasztalja meg a Semicera páratlan védelmet és kényelmetOstya kazetta hordozó. Tartónk úgy lett kialakítva, hogy megfeleljen a félvezetőgyártás legszigorúbb követelményeinek, így biztosítva, hogy ostyái az elejétől a végéig kifogástalan állapotban maradjanak. Bízzon a Semicerában, hogy a legkritikusabb folyamataihoz szükséges minőséget és megbízhatóságot biztosítsa.

Tételek

Termelés

Kutatás

Színlelt

Kristály paraméterek

Politípus

4H

Felületi tájolási hiba

<11-20 >4±0,15°

Elektromos paraméterek

Adalékanyag

n-típusú nitrogén

Ellenállás

0,015-0,025 ohm·cm

Mechanikai paraméterek

Átmérő

150,0±0,2 mm

Vastagság

350±25 μm

Elsődleges lapos tájolás

[1-100]±5°

Elsődleges lapos hossz

47,5±1,5 mm

Másodlagos lakás

Egyik sem

TTV

≤5 μm

≤10 μm

≤15 μm

LTV

≤3 μm (5mm*5mm)

≤5 μm (5mm*5mm)

≤10 μm (5mm*5mm)

Íj

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

Warp

≤35 μm

≤45 μm

≤55 μm

Elülső (Si-felület) érdesség (AFM)

Ra≤0,2nm (5μm*5μm)

Szerkezet

Mikrocső sűrűsége

<1 e/cm2

<10 e/cm2

<15 e/cm2

Fém szennyeződések

≤5E10 atom/cm2

NA

BPD

≤1500 ea/cm2

≤3000 ea/cm2

NA

TSD

≤500 e/cm2

≤1000 ea/cm2

NA

Elülső minőség

Elülső

Si

Felületkezelés

Si-face CMP

Részecskék

≤60ea/ostya (méret≥0,3μm)

NA

Karcolások

≤5ea/mm. Összesített hossz ≤ Átmérő

Összesített hossz≤2*Átmérő

NA

Narancsbőr/magok/foltok/csíkok/repedések/szennyeződés

Egyik sem

NA

Élfoszlányok/bemélyedések/törés/hatlaplemezek

Egyik sem

Politípus területek

Egyik sem

Összesített terület ≤ 20%

Összesített terület ≤30%

Elülső lézeres jelölés

Egyik sem

Hátsó minőség

Hátsó befejezés

C-arcú CMP

Karcolások

≤5ea/mm, kumulatív hossz≤2*átmérő

NA

Hátsó hibák (széltöredések/benyomódások)

Egyik sem

Hát érdesség

Ra≤0,2nm (5μm*5μm)

Hátsó lézeres jelölés

1 mm (felső éltől)

Él

Él

Letörés

Csomagolás

Csomagolás

Epi-ready vákuum csomagolással

Több ostyás kazettás csomagolás

*Megjegyzések: Az "NA" azt jelenti, hogy nincs kérés A nem említett tételek SEMI-STD-re vonatkozhatnak.

tech_1_2_size
SiC ostyák

  • Előző:
  • Következő: