InP és CdTe szubsztrát

Rövid leírás:

A Semicera InP és CdTe Substrate megoldásait nagy teljesítményű alkalmazásokhoz tervezték a félvezető- és napenergia-iparban. InP (indium-foszfid) és CdTe (kadmium-tellurid) hordozóink kivételes anyagtulajdonságokat kínálnak, beleértve a nagy hatékonyságot, a kiváló elektromos vezetőképességet és a robusztus hőstabilitást. Ezek a hordozók ideálisak fejlett optoelektronikai eszközökben, nagyfrekvenciás tranzisztorokban és vékonyfilmes napelemekben való használatra, megbízható alapot biztosítva a legmodernebb technológiákhoz.


Termék részletek

Termékcímkék

SemicerávalInP és CdTe szubsztrát, kiváló minőségre és precíziós tervezésre számíthat, amely megfelel a gyártási folyamatok speciális igényeinek. Legyen szó fotovoltaikus alkalmazásokról vagy félvezető eszközökről, hordozóink úgy vannak kialakítva, hogy biztosítsák az optimális teljesítményt, tartósságot és konzisztenciát. Megbízható beszállítóként a Semicera elkötelezett amellett, hogy kiváló minőségű, testreszabható szubsztrátummegoldásokat szállítson, amelyek ösztönzik az innovációt az elektronikai és a megújuló energia szektorban.

Kristályos és elektromos tulajdonságok1

Írja be
Adalékanyag
EPD (cm)–2(Lásd lentebb A.)
DF (Hibamentes) terület (cm).2, Lásd lentebb B.)
c/c cm–3
Mobilit (y cm2/Vs)
Ellenállás (y Ω・cm)
n
Sn
≦5×104
≦1×104
≦5×103
──────
 

(0,5-6) × 1018
──────
──────
n
S
──────
≧ 10 (59,4%)
≧ 15 (87%).4
(2-10) × 1018
──────
──────
p
Zn
──────
≧ 10 (59,4%)
≧ 15 (87%).
(3-6) × 1018
──────
──────
SI
Fe
≦5×104
≦1×104
──────
──────
──────
≧ 1×106
n
egyik sem
≦5×104
──────
≦1×1016
≧ 4×103
──────
1 Kérésre további specifikációk is elérhetők.

A.13 Pontátlag

1. A diszlokációs maratási gödör sűrűségét 13 ponton mérjük.

2. Kiszámítjuk a diszlokációsűrűségek területi súlyozott átlagát.

B.DF területmérés (területgarancia esetén)

1. A jobb oldalon látható 69 pont diszlokációs maratási gödörsűrűségeit megszámoljuk.

2. A DF az 500 cm-nél kisebb EPD-t jelenti–2
3. Ezzel a módszerrel mért maximális DF terület 17,25 cm2
InP és CdTe szubsztrát (2)
InP és CdTe szubsztrát (1)
InP és CdTe szubsztrát (3)

Az InP egykristályos szubsztrátumok közös specifikációi

1. Tájékozódás
Felületi tájolás (100)±0,2º vagy (100)±0,05º
Felületi eltolás igény esetén elérhető.
A sík tájolása OF : (011)±1º vagy (011)±0,1º IF : (011)±2º
Cleaved OF kérésre elérhető.
2. A SEMI szabványon alapuló lézeres jelölés elérhető.
3. Egyedi csomag, valamint N2 gázos csomag is elérhető.
4. Etch-and-pack N2 gázban kapható.
5. Téglalap alakú ostyák kaphatók.
A fenti specifikáció a JX szabványnak felel meg.
Ha más specifikációra van szükség, kérjük, keressen minket.

Tájolás

 

InP és CdTe szubsztrát (4) (1)
Semicera Munkahely
Semicera munkahely 2
Berendezés gép
CNN feldolgozás, vegyi tisztítás, CVD bevonat
Semicera Raktárház
A mi szolgáltatásunk

  • Előző:
  • Következő: